Espectrómetros Fluorescencia Rayos X, Emisión Optica Arc/Chispa, FTIR, Difracción Rayos X, Microsco

Por: Atg Instrumentacion  24/05/2010
Palabras clave: Metales, Portátiles, Analisis Quimico

* Espectrómetros para análisis químico en materiales diversos tales como cerámicos, plásticos/polímeros, cemento y clinker, lodos industriales y medio ambiente, minería y geología, etc :
EDXRF y WDXRF ( Fluorescencia de Rayos X ), FTIR ( infrarrojo por transformada de fourier ), Analizadores elementales de C y S;
* Difractómetros de Rayos X para caracterización de materiales cristalinos geológicos, mineros y metalúrgicos ;
* Espectrómetros para análisis químico e identificación de aleaciones metálicas para metalmecánica y metalurgia : OES A/S ( Arco-Chispa ) ;
* Microscopía de fuerza atómica ( AFM ) para estudio topográfico, de fenómenos y esfuerzos de superficie, nanoindentaciones, nanolitografía, etc y Microscopía electrónica de barrido ;
* Hornos industriales para trabajo en atmósferas distintas, diseñados bajo especificación de usuario en el rango de temperatura ambiente a 2000 C ;
* Estándares de calibración líquidos y sólidos para polímeros/plásticos, muestras de medioambiente, metales y derivados de petróleo ;

Palabras clave: Analisis Quimico, Espectrómetros, Metales, Portátiles

Póngase en contacto con Atg Instrumentacion

Email

Imprimir esta página

Compartir